发明名称 分光反射率测定装置及分光反射率测定方法
摘要 本发明目的在于提供一可针对包括紫光区域的广大波长区域,测定特定波长的光之反射率的分光反射率测定装置,并可轻易取得参考值之分光反射率测定装置及分光反射率测定方法。其解决手段为:分光反射率测定装置系具有:具备氙气灯之光源部、和传递来自该光源部的光之入射侧光纤、和经该入射侧光纤传递的光介于正透镜及光扩散板照射到测定对象物的被测定面之同时,受到来自该被测定面的反射光之测定光头、和传递通过该测定光头的反射光之出射侧光纤、和接收经该出射侧光纤传递的光之分光放射照度计。测定光头系具有:光入射筒部、和与该光入射筒部独立之光出射筒部,光入射筒部与光出射筒部是以各自的光轴交叉于被测定面或其近傍的状态,被可分离地一体连结。进而光入射筒部与光出射筒部能以两者光轴为一致的状态被传递。
申请公布号 TW504570 申请公布日期 2002.10.01
申请号 TW090124852 申请日期 2001.10.08
申请人 牛尾电机股份有限公司 发明人 诸石光太郎;龟田洋幸;新堀真史
分类号 G01N21/55 主分类号 G01N21/55
代理机构 代理人 林志刚 台北巿南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种分光反射率测定装置,其特征为具有:具备氙气灯之光源部、和传递来自该光源部的光之入射侧光纤、和经该入射侧光纤传递的光介于正透镜及光扩散板照射到测定对象物的被测定面之同时,受到来自该被测定面的反射光之测定光头、和传递通过该测定光头的反射光之出射侧光纤、和接收经该出射侧光纤传递的光之分光放射照度计。2.如申请专利范围第1项所述之分光反射率测定装置,其中上述测定光头具有:光入射筒部、和与该光入射筒部独立之光出射筒部;于上述光入射筒部系形成其一端连接入射侧光纤之光纤连接部,同时于另一端设有透光孔,且由上述光纤连接部依序配置正透镜和光扩散板;于上述光出射筒部在介于透光孔而临接于被测定面的一端和形成连接出射侧光纤的光纤连接部的另一端之间配置接收来自被测定面的反射光之透镜;上述光入射筒部和上述光出射筒部是各光轴交叉于测定对象物的表面或其近傍的状态可分离的一体连结。3.如申请专利范围第2项所述之分光反射率测定装置,其中上述测定光头的光出射筒部配置反射来自被测定面的反射光之反射反光镜,藉此该光出射筒部的伸展方向最好是略与光入射筒部的伸展方向同方向。4.如申请专利范围第2项或第3项所述之分光反射率测定装置,其中上述测定光头的光入射筒部和光出射筒部是以两者光轴可一致的状态被连结,以此种连结的状态针对参考光进行参考光测定。5.如申请专利范围第4项所述之分光反射率测定装置,其中上述光入射筒部和光出射筒部可藉由参考光测定用治具构成两者光轴一致的状态而连结。6.一种分光反射率测定方法,其特征为:应用如申请专利范围第4项或第5项所述之分光反射率测定装置,使测定光头的光入射筒部和光出射筒部以两者光轴一致的状态被连结的状态来进行参考光测定,同时将测定光头的光入射筒部和光出射筒部,于各自光轴交叉于测定对象物的表面或其近傍的状态而一体传递的状态,针对测定对象物的被测定面进行分光反射率的测定;根据相对于参考光的分光放射照度之反射光的分光放射照度之关系求得该被测定面的分光反射率。7.一种分光反射率测定装置,其特征为具有:具备氙气灯之光源部、和传递来自该光源部的光之入射侧光纤、和将经该入射侧光纤传递的光介于正透镜、光扩散板及半反光镜照射到测定对象物的被测定面,同时介于该半反光镜接收来自该被测定面的反射光之测定光头、和传递通过被测定光头的反射光之出射侧光纤、和接收经该出射侧光纤传递的光之分光放射照度计。图式简单说明:第1图系表示本发明之分光反射率测定装置构成的其中一例之说明图。第2图系表示测定光头之具体构造之说明图。第3图系表示测定光头之参考光测定用状态的说明用侧面图。第4图系由左边观看第3图之参考光测定用治具的状态之正面图。第5图系针对本发明之实施例中的光扩散板作用之说明图。第6图系习知反射率测定装置之说明用断面图。第7图系表示理想的光扩散板作用之说明图。第8图系表示第6图之反射率测定装置中的光扩散板作用之说明图。第9图系以入射角为0度的状态测定反射率的场合之测定光头的概略构成图。
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