| 发明名称 |
Method and apparatus for contactless capacitive testing of integrated circuits |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU2002240267(A1) |
申请公布日期 |
2002.08.19 |
| 申请号 |
AU20020240267 |
申请日期 |
2002.02.05 |
| 申请人 |
SUN MICROSYSTEMS, INC. |
发明人 |
ROBERT BOSNYAK;WILLIAM COATES;IVAN SUTHERLAND |
| 分类号 |
G01R31/303;(IPC1-7):G01R31/312 |
主分类号 |
G01R31/303 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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