| 发明名称 |
Automatic inspection method for contactlessly measuring an offset of a central feature of an object |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0757226(B1) |
申请公布日期 |
2002.06.12 |
| 申请号 |
EP19960305374 |
申请日期 |
1996.07.23 |
| 申请人 |
AT&T IPM CORP. |
发明人 |
CSIPKES, ANDREI;PALMQUIST, JOHN MARK |
| 分类号 |
G01B11/00;G01B21/00;G02B6/38;G02B6/42;(IPC1-7):G01B11/00;G06T7/60 |
主分类号 |
G01B11/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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