快速调试可控硅整流设备的方法

摘要

本发明涉及一种可控硅整流设备的调试方法,特别是对整流设备中可控硅导通角一致性调试的方法,技术方案是:用一块万用表和一个适当的假负载完成可控硅整流设备的调整,本发明是通过让可控硅一个一个的单独触发导通,通过用万用表电压档观察在同一给定的情况下每个可控硅对其它两相单独导通时的输出是否相等来推知可控硅的导通角是否一致。它能够一步就能达到目的,而现有调试方法则是通过用示波器观察各相可控硅的触发脉冲幅度及脉冲间隔距离是否相等来推知可控硅的导通角是否一致,它需要四步以上才能达到目的。本发明具有调试原理简单,调整迅速等优点,特别适用于现场调试。

主权项

1、一种快速调试可控硅整流设备的方法，其特征在于通过让三相桥式可控硅整流设备中可控硅一个一个的单独触发导通，通过用万用表电压档观察在同一给定的情况下每个可控硅对其它两相单独导通时的输出是否相等来推知可控硅的导通角是否一致。