发明名称 集成电路晶片承载盘及其制造方法
摘要 一种集成电路晶片承载盘的制造方法,包括步骤:将熔融塑料射入承载盘的模穴中;预设压力值;将气体增压至预设压力值;预测熔融塑料的状态;将气体射入模穴中;将气体排放至下一个压力值,再将其与模穴形成通路,并进行保压;排放气体至大气压力。集成电路晶片承载盘包括:一封闭的外框架;相互间隔地设于外框架内的助条,沿肋条长度方向设有封闭的第一气道。至少二个容置区,由外框架与肋条界定,没容置区下方,设有支持晶片的支撑板。$#!
申请公布号 CN1080177C 申请公布日期 2002.03.06
申请号 CN98119354.4 申请日期 1998.09.21
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 王先毅;陈永志;郑龙正;刘文亮
分类号 B29C45/00;B29C45/57 主分类号 B29C45/00
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 徐娴
主权项 1、一种集成电路晶片承载盘的制造方法,其特征在于,包括下列步骤:(1)将熔融塑料以对称位置射入晶片承载盘的模穴中;(2)预设至少二段压力数值;(3)将一种气体增压至其中之一的预设压力值,并控制其体积;(4)预测或分析出熔融塑料于该模穴中的分布状况;(5)将预设压力值的气体以对称位置,射入已充填塑料的模穴中,经一定时间而停止;(6)将该具预设压力值的气体排放至己预先调整的下一次压力值,再将具有下一次压力值的气体与所述模穴连成为通路,经一定时间而停止,以进行保压;(7)排放气体直至与大气压力相同而停止;(8)打开模具,形成IC晶片承载盘。
地址 中国台湾