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Bei einem integrierten Schaltkreis mit einer zu testenden Applikationsschaltung (1) und einer Selbsttest-Schaltung (5-16), welche zum Testen der Applikationsschaltung (1) vorgesehen ist und welche eine Anordnung (5-9) zur Erzeugung deterministischer Testmuster aufweist, die der Applikationsschaltung (1) für Testzwecke zugeführt werden, wobei die durch die Applikationsschaltung (1) in Abhängigkeit der Testmuster auftretenden Ausgangssignale mittels eines Signaturregisters (13) ausgewertet werden, ist für eine uneingeschränkte ON-Chip Testbarkeit des integrierten Schaltkreises und ohne zusätzliche Schaltungselemente in der Applikationsschaltung (1) für Testzwecke vorgesehen, dass die Selbst-Schaltung (5-16) eine Maskierungslogik (14) aufweist, welche beim Testen diejenigen Bits der Ausgangssignale der Applikationsschaltung (1) sperrt, die aufgrund des Schaltungsaufbaus der Applikationsschaltung (1) undefinierte Zustände aufweisen und welche nur die übrigen Bits dem Signaturregister (13) zuführt.
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