发明名称 晶片测试机的晶片分类装置
摘要 一种晶片测试机的晶片分类装置,包含有:二进料管,顶端连接于晶片测试机上的测试座,底端各设有一阻挡器;一搬运机构,由一轨道、二活动载台、二驱动器所组成,该轨道横向设置于该二进料管的下方,该二活动载台设置于该轨道上而可沿该轨道横向往复移动,该二驱动器设置于该轨道两端,且分别连接于该二活动载台,该二活动载台的底端各设有一阻挡器四出料管,设置于该轨道下方,位于内侧的二出料管对正于该二进料管。
申请公布号 CN2463956Y 申请公布日期 2001.12.05
申请号 CN01200270.4 申请日期 2001.01.22
申请人 东捷半导体科技股份有限公司 发明人 严灿焜
分类号 H01L21/66;G01R31/26;G01R31/28 主分类号 H01L21/66
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汤保平
主权项 1.一种晶片测试机的晶片分类装置,配合设置于双座晶片测试机上,用来将测试完成的晶片依其良劣加以分类,其特征在于,该处理装置包含有:二进料管,顶端连接于晶片测试机上的测试座,该二进料管的底端各设有一阻挡器;一搬运机构,由一轨道、二活动载台、二驱动器所组成,该轨道横向设置于该二进料管的下方,该二活动载台设置于该轨道上而可沿该轨道横向往复移动,该二驱动器设置于该轨道两端,且分别连接于该二活动载台,该二活动载台的底端各设有一阻挡器;四出料管,设置于该轨道下方,位于内侧的二出料管对正于该二进料管。
地址 台湾台南市中区广慈里成功路59号