发明名称 | 晶片测试机的晶片分类装置 | ||
摘要 | 一种晶片测试机的晶片分类装置,包含有:二进料管,顶端连接于晶片测试机上的测试座,底端各设有一阻挡器;一搬运机构,由一轨道、二活动载台、二驱动器所组成,该轨道横向设置于该二进料管的下方,该二活动载台设置于该轨道上而可沿该轨道横向往复移动,该二驱动器设置于该轨道两端,且分别连接于该二活动载台,该二活动载台的底端各设有一阻挡器四出料管,设置于该轨道下方,位于内侧的二出料管对正于该二进料管。 | ||
申请公布号 | CN2463956Y | 申请公布日期 | 2001.12.05 |
申请号 | CN01200270.4 | 申请日期 | 2001.01.22 |
申请人 | 东捷半导体科技股份有限公司 | 发明人 | 严灿焜 |
分类号 | H01L21/66;G01R31/26;G01R31/28 | 主分类号 | H01L21/66 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 汤保平 |
主权项 | 1.一种晶片测试机的晶片分类装置,配合设置于双座晶片测试机上,用来将测试完成的晶片依其良劣加以分类,其特征在于,该处理装置包含有:二进料管,顶端连接于晶片测试机上的测试座,该二进料管的底端各设有一阻挡器;一搬运机构,由一轨道、二活动载台、二驱动器所组成,该轨道横向设置于该二进料管的下方,该二活动载台设置于该轨道上而可沿该轨道横向往复移动,该二驱动器设置于该轨道两端,且分别连接于该二活动载台,该二活动载台的底端各设有一阻挡器;四出料管,设置于该轨道下方,位于内侧的二出料管对正于该二进料管。 | ||
地址 | 台湾台南市中区广慈里成功路59号 |