| 摘要 |
<p>본 발명은 반도체 특성 테스팅 장치용 하이 캐릭터스트릭 소켓에 관한 것으로, 그 목적은 신호전달 속도가 빠르고, 간격조절이 가능하고, 핀수를 다양하게 조절하여 다양한 디바이스에 사용할 수 있도록 함으로서 속도가 빠른 디바이스의 특성을 보다 신속하고 정확하게 테스팅할 수 있을 뿐만 아니라 다양한 다바이스에 대하여 각각 별도의 소켓을 구비하지 않고 단일의 소켓으로 여러가지 디바이스에 적용하여 사용할 수 있는 반도체 특성 테스팅 장치용 하이 캐릭터스트릭 소켓을 제공하는 것이며, 그 구성은 하이 픽스 보드베이스와, 상기 하이 픽스 보드베이스상에 적층되는 보드베이스 플레이트와, 상기 보드베이스 플레이트상에 형성된 각각의 안착부상에 설치되는 다수개의 보드 스페이서와, 상기 각각의 보드 스페이서상에 고정설치되는 소켓보드와, 상기 소켓보드상에 고정조립되는 하이 캐릭터스트릭 소켓을 구비하는 반도체 테스팅 장치에 있어서, 상기 하이 캐릭터스트릭 소켓은 상호 대향되게 형성된 2개의 합성수지 성형물로서 대향되는 일면부를 따라 형성되는 다수개의 핀조립홈과, 양단부에 대향되게 돌출형성되고, 각각 결합공을 갖는 복수개의 고정편과, 하면 양단부측 소정위치에 하방으로 돌출형성되는 복수개의 조립돌기와, 내부에 길이방향을 따라 상호 소정간격져서 형성되는 다수개의 고정편결합홈 및 탄성부수납부를 각각 일체로 갖고 각각의 상기 소켓보드상에 상호 간격조절가능하게 상호 대칭되게 고정조립되는 복수개의 소켓본체와; 상기 소켓본체의 핀조립홈에 각각 착탈가능하게 끼움조립되는 다수개의 핀으로 구성되는 것을 특징으로 한다.</p> |
