发明名称 化学机械研磨中研磨之图案依存性的修饰方法
摘要 一种CMP方法包括形成含有氧化铈之CMP浆液;加入浆液调整剂,其中浆液调整剂以零速率研磨低结构区域而以接近总体研磨速率之速率研磨高结构区域;及使用含有调整剂之浆液研磨结构。
申请公布号 TW450871 申请公布日期 2001.08.21
申请号 TW088117928 申请日期 1999.10.16
申请人 夏普股份有限公司 发明人 大卫罗素伊文斯
分类号 B24B7/24;B24B37/04;H01L21/304 主分类号 B24B7/24
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种化学机械研磨方法包含: 形成含有氧化铈之化学机械研磨浆液; 于浆液中添加入浆液调整剂,其中浆液调整剂以接 近零的速率研磨低结构区域而以接近总体研磨速 率的速率研磨高结构区域;及 使用含有调整剂之浆液研磨结构。2.如申请专利 范围第1项之方法,其中该浆液形成包含将氧化铈 之浓度设为约1%至50%重量百分比。3.如申请专利范 围第1项之方法,其中该研磨包含压力为约5 psi至10 psi之化学机械研磨。4.如申请专利范围第1项之方 法,其中该添加包含加入浓度最高为50%之乙二醇。 5.一种化学机械研磨方法包含: 形成含有浓度为约1%至50%重量百分比之氧化铈之 化学机械研磨浆液; 于浆液中添加入浆液调整剂,其中浆液调整剂以接 近零的速率研磨低结构区域而以接近总体研磨速 率的速率研磨高结构区域;及 使用含有调整剂之浆液研磨结构。6.如申请专利 范围第5项之方法,其中该研磨包含压力为约5 psi至 10 psi之化学机械研磨。7.如申请专利范围第5项之 方法,其中该添加包含加入浓度最高为50%之乙二醇 。8.一种化学机械研磨方法包含: 形成含有浓度为约1%至50%重量百分比之氧化铈之 化学机械研磨浆液; 添加入浓度最高为50%之乙二醇,以接近零的速率研 磨低结构区域而以接近总体研磨速率的速率研磨 高结构区域;及 使用该浆液研磨结构。9.如申请专利范围第8项之 方法,其中该研磨包含压力为约5 psi至10 psi之化学 机械研磨。图式简单说明: 第一图表示理想的研磨特性。 第二图表示二氧化矽基材之使用传统浆液的CMP特 性。 第三图表示CMP特性为物件尺寸及密度之函数。 第四图表示二氧化矽基材之使用氧化锶浆液的CMP 特性。 第五图表示二氧化矽基材之以不同图垫使用氧化 锶浆液的CMP特性。 第六图表示二氧化矽基材之于研磨挡块上使用氧 化锶浆液的CMP特性。 第七图表示乙二醇在使用氧化锶浆液的CMP之效应 。 第八图表示乙二醇在以加大下压力量使用氧化锶 浆液的CMP之效应。
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