发明名称 |
Verfahren und Struktur zum Messen der Temperatur von Heizelementen eines Tintenstrahl-Druckkopfs |
摘要 |
Ein Verfahren und eine Struktur zum Messen der Temperatur von Heizelementen eines Tintenstrahl-Druckkopfs werden bereitgestellt, wobei eine zusätzliche Metallschicht oder Halbleiterschicht auf dem Tintenstrahlchip mit Ansteuerelementen, um die Temperatur jedes einzelnen Heizelements genau zu messen, ausgebildet ist. Die Struktur umfaßt: ein Tintenstrahlbauelement mit einem Heizelement zum Heizen von flüssiger Tinte; einen Transistortreiber zum Ansteuern eines Transistors, um das Heizen des Heizelements zu steuern; und eine Temperaturfühlschicht, die sich zwischen dem Tintenstrahlbauelement und dem Transistortreiber und unter dem Heizelement befindet, wobei die Temperaturfühlschicht zwei Anschlüsse aufweist, von denen einer mit dem Transistor verbunden ist und der andere mit einem Elektrodenanschluß verbunden ist, der mit einem Drucker verbunden ist, wobei das Tintenstrahlbauelement über die Temperaturfühlschicht mit dem Transistortreiber verbunden ist.
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申请公布号 |
DE10059964(A1) |
申请公布日期 |
2001.08.09 |
申请号 |
DE20001059964 |
申请日期 |
2000.12.02 |
申请人 |
INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE, CHUTUNG |
发明人 |
CHANG, CHARLES C.;WANG, CHIEH-WEN;SU, SHYH-HAUR |
分类号 |
B41J2/05;B41J2/125;B41J2/14;(IPC1-7):B41J2/125;B41J2/17;B41J2/04 |
主分类号 |
B41J2/05 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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