发明名称 | 微小自聚焦透镜聚焦光斑质量检测装置及方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种微小自聚焦透镜聚焦光斑质量检测装置及方法,本装置包括光源、光纤跳线、五维调整架、微小自聚焦透镜夹具、显微系统、光束分析仪和计算机。运行计算机和光束分析仪,光源的输出光束依次通过光纤跳线、微小自聚焦透镜、显微系统后传输到光束分析仪,光束分析仪探测到的光束的形心位置和光斑大小信息在计算机中显示、记录。该装置及方法能实现微小自聚焦透镜聚焦光斑质量的快速、精确检测,能间接测出微小自聚焦透镜的聚焦焦距。 | ||
申请公布号 | CN104019964A | 申请公布日期 | 2014.09.03 |
申请号 | CN201410254389.2 | 申请日期 | 2014.06.10 |
申请人 | 上海大学 | 发明人 | 王驰;夏学勤;许婷婷;毕书博;于瀛洁 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人 | 陆聪明 |
主权项 | 一种微小自聚焦透镜聚焦光斑质量检测装置,包括光源(101)、光纤跳线(102)、五维调整架(103)、微小自聚焦透镜夹具(104)、显微系统(105)、光束分析仪(106)和计算机(107),其特征在于,微小自聚焦透镜(108)装夹在所述微小自聚焦透镜夹具(104)上,微小自聚焦透镜(108)靠近光源(101)一端通过光纤跳线(102)与光源(101)连接;所述微小自聚焦透镜夹具(104)置于五维调整架(103)上;所述显微系统(105)和光束分析仪(106)通过螺纹连接,所述显微系统(105)的中心轴线与光束分析仪(106)的中心轴线重合;所述光束分析仪(106)与计算机(107)通过USB接口数据线连接。 | ||
地址 | 200444 上海市宝山区上大路99号 |