发明名称 ION IMPLANTATION ION SOURCE, SYSTEM AND METHOD
摘要 <p>An ion source (1) for ion implantation system includes a vaporizer (2) for producing process gas; an electron source (12) for directing an electron beam (32) to ionize the process gas within an ionization volume (16); a beam dump (11); an ionization chamber (5); and an extraction aperture (37) for extracting an ion beam.</p>
申请公布号 WO2001043157(A1) 申请公布日期 2001.06.14
申请号 US2000033786 申请日期 2000.12.13
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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