摘要 |
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Erzeugen eines einen Fehlerstrom eines mindestens zwei Leiterenden (120, 123, 126, 129) aufweisenden elektrischen Leiters (130) kennzeichnenden Fehlersignals mit Ladungsmesseinrichtungen (100, 103, 106, 109), die über Datenleitungen (112) untereinander verbunden sind und von denen an jedem Leiterende des Leiters jeweils eine angebracht ist, wobei bei dem Verfahren mit den Ladungsmesseinrichtungen Ladungsmesswerte gemessen werden, die jeweils die durch das jeweilige Leiterende während einer vorgegebenen Messdauer geflossene Ladungsmenge angeben, mit den Ladungsmesswerten unter Berücksichtigung der Richtung des Ladungsflusses durch Addition ein Gesamtladungsmesswert gebildet wird und das Fehlersignal erzeugt wird, wenn der Gesamtladungsmesswert betragsmässig einen an die jeweilige Messsituation angepassten Schwellwert überschreitet. Um Fehler noch empfindlicher erfassen zu können als bisher, wird erfindungsgemäss der Schwellwert unter Berücksichtigung der individuellen Messtoleranz der einzelnen Ladungsmesseinrichtungen gebildet.
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申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;PHILIPPOT, LUC;NGOUNOU NGAMBO, YVES;KERGER, TORSTEN |
发明人 |
PHILIPPOT, LUC;NGOUNOU NGAMBO, YVES;KERGER, TORSTEN |