发明名称 自行校准矽化金氧半导体(MOS)制程之精确电阻
摘要 一种精确电阻(11)系藉与电晶体源/吸区(18、21)同一时间造成之扩散区(20)在积体电路中形成。在金氧半导体(CMOS)制程中,此一N型电阻器区系在一N型井(16)内形成,一如系被使用为P型通道电晶体。此电阻器利用淀积氧化层(30、46)作为面罩而形成,同时此一氧化层亦被用以制造电晶体闸(22、23)之侧面间隔物(24、25)。此侧面间隔物系用以在源/吸区之上创造自行校准之矽化区(26、27),即与该等闸自行校准,同时此矽化物亦用作为电阻器之接触区(31、32)。电阻值系以留作面罩之淀积氧化层之宽度而界定,但此并不需要任何重要之校准步骤。
申请公布号 TW240331 申请公布日期 1995.02.11
申请号 TW080102518 申请日期 1991.04.02
申请人 迪吉多电脑公司 发明人 比琼.凯.艾.翟特路
分类号 H01C17/00;H01L21/70 主分类号 H01C17/00
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项
地址 美国