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发明名称 Halbleiterspeichergerät mit Prüfmodus
摘要
申请公布号 DE69329011(T2) 申请公布日期 2001.03.22
申请号 DE19936029011T 申请日期 1993.08.12
申请人 TEXAS INSTRUMENTS INC., DALLAS 发明人 OKUZAWA, KIYOTAKA;OGATA, YOSHIHIRO;INUI, TAKASHI
分类号 G11C11/401;G11C11/407;G11C29/12;G11C29/34;H01L27/10;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C11/401
代理机构 代理人
主权项
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