发明名称 智慧型自动测距均方根测量方法与装置
摘要 一种在电子测试设备中用来执行自动测距功能之装置及方法,监视欲测量之输入信号之RMS值及峰值二者,在该标的物之系统中,超出目前所选取范围之动态范围的峰值信号之测量将造成下一个更高范围之选取,当该 RMS值已造成该选取时,将超出下一个更低之测量范围之动态范围的峰值信号之测量将防止下一个更低范围之选取,而并未超出目前所选取之测量范围之动态范围或下一个更低之测量范围之动态范围时,将使测量范围选取之控制藉该输入信号之RMS值予以确定。
申请公布号 TW424142 申请公布日期 2001.03.01
申请号 TW088106154 申请日期 1999.04.16
申请人 泰克特洛尼克斯公司 发明人 保罗.斯萨伯
分类号 G01N23/00 主分类号 G01N23/00
代理机构 代理人 林志刚 台北巿南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种数位式万用表,包含:自动测距电路,用以自动地选取测量范围来回应所测量之输入信号的特征;一控制器,用以控制该自动测距电路来选取范围:一RMS处理器,连接至该控制器,用以提供指示该输入信号之RMS値的信号至该控制器;以及一峰値侦测器电路,用以提供峰値信号至该控制器,若该峰値信号超出预定之临界値,则该控制器致使该自动测距电路选取下一个更高的测量范围。2.如申请专利范围第1项之数位式万用表,更包含复数个用以选取诸测量范围的受控开关,该复数个受控开关在控制器之控制下操作。3.如申请专利范围第2项之数位式万用表,其中该RMS处理器在输出处产生多位元之数位信号。4.如申请专利范围第2项之数位式万用表,其中该峰値信号处理器中输出处产生多位元之数位信号。5.一种数位式万用表,包含:自动测距电路,用以自动地选取测量范围来回应所测量之输入信号的特征;一控制器,用以控制该自动测距电路来选取范围:一RMS处理器,连接至该控制器,用以提供指示该输入信号之RMS値的信号至该控制器;以及一峰値侦测器电路,用以提供峰値信号至该控制器,若该峰値信号超出与该下一个更低之测量范围相关的预定临界値,则该控制器防止该自动测距电路选取下一个更低的测量范围。6.如申请专利范围第5项之数位式万用表,更包含复数个用以选取诸测量范围的受控开关,该复数个受控开关在控制器之控制下操作。7.如申请专利范围第6项之数位式万用表,其中该RMS处理器在输出处产生多位元数位信号。8.如申请专利范围第6项之数位式万用表,其中该峰値信号处理器在输出处产生多位元数位信号。9 .一种电子测量设备,包含:自动测距电路,用以自动地选取测量范围来回应所测量之输入信号的特征;一控制器,用以控制该自动测距电路来选取范围:一RMS处理器,连接至该控制器,用以提供指示该输入信号之RMS値的信号至该控制器;以及一峰値侦测器电路,用以提供峰値信号至该控制器,若该峰値信号超出预定界限,则该控制器致使该自动测距电路选取下一个更高的测量范围;以及当该RMS値小于一预定之RMS界限时且当该峰値信号并未超出与该下一个更低的测量范围相关之预定峰値时,该控制器致使该自动测距电路选取下一个更低的测量范围。10.如申请专利范围第9项之测量设备,更包含复数个用以选取诸测量范围的受控开关,该复数个受控开关在控制器之控制下操作。11.如申请专利范围第10项之测量设备,其中该峰値信号预定界限系与各测量范围之动态范围有关。12.如申请专利范围第9项之测量设备,其中该RMS处理器在输出处产生多位元之数位信号。13.如申请专利范围第9项之测量设备,其中该峰値信号处理器在输出处产生多位元数位信号。14.一种用来控制自动测距功能之方法,包含下列步骤:选取一测量范围来回应所测量之输入信号的特征;提供一RMS处理器,用以提供指示该输入信号之RMS値的信号;以及提供一峰値侦测器电路,用以提供代表该输入信号之峰値振幅的峰値信号;若该峰値信号超出预定界限,则使该自动测距电路选取下一个更高的测量范围;以及当该RMS値小于预定之RMS界限时且当该峰値信号并未超出与该下一个更低的测量范围相关之预定峰値时,使该自动测路电路选取下一个更低的测量范围。15.一种用来控制自动测距功能之方法,包含下列步骤:选取一测量范围来回应所测量之输入信号的特征;提供一RMS处理器,用以提供指示该输入信号之RMS値的信号;提供一峰値侦测器电路,用以提供代表该输入信号之峰値振幅的峰値信号;以及若该峰値信号超出预定界限,则使该自动测距电路选取下一个更高的测量范围。16.一种用来控制自动测距功能之方法,包含下列步骤:选取一测量范围来回应所测量之输入信号的特征;提供一RMS处理器,用以提供指示该输入信号之RMS値的信号;提供一峰値侦测器电路,用以提供代表该输入信号之峰値振幅的峰値信号;以及当该RMS値小于预定的RMS界限时且当该峰値信号并未超出与该下一个更低的测量范围相关之预定峰値时,使该自动测路电路选取下一个更低的测量范围。图式简单说明:第一图显示一有用于理解本发明之流程图;以及第二图系有用于实施本发明之万用表之部份图。
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