首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING A DIGITAL SEMI-CONDUCTOR CIRCUIT
摘要
申请公布号 EP1055238(A1) 申请公布日期 2000.11.29
申请号 EP19980955360 申请日期 1998.09.30
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 SAVIGNAC, DOMINIQUE;NIKUTTA, WOLFGANG;KUND, MICHAEL;TEN BROEKE, JAN
分类号 G01R31/3183;G01R31/28;G11C29/10;G11C29/26;G11C29/34;G11C29/36;G11C29/38;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com