发明名称 |
METHOD FOR FUNCTIONALLY TESTING MEMORY CELLS OF AN INTEGRATED SEMICONDUCTOR MEMORY |
摘要 |
In einem Verfahren zur Funktionsüberprüfung von Speicherzellen (MC) eines integrierten Halbleiterspeichers wird eine erste Gruppe (1) der Speicherzellen geprüft. Die Prüfergebnisse (A, B) werden, für jede geprüfte Speicherzelle getrennt, in wenigstens dreifacher Kopie in einer zweiten Gruppe (2) der Speicherzellen (MC) zwischengespeichert. Es erfolgt ein Vergleich zwischen den Kopien jedes der Prüfergebnisse (A, B) und deren Auswertung. Die Adressen der jeweiligen Speicherzellen der zweiten Gruppe (2) werden über eine Adresstransformation (T) bestimmt. Diese ist so ausgelegt, dass signifikante Häufungen von Funktionsfehlern in einer fehlerbehafteten zweiten Gruppe (2) der Speicherzellen (MC) das Ergebnis des Prüfverfahrens nicht beeinflussen. |
申请公布号 |
WO0046810(A1) |
申请公布日期 |
2000.08.10 |
申请号 |
WO2000DE00283 |
申请日期 |
2000.02.01 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG;DAEHN, WILFRIED;HAMMERL, ERWIN |
发明人 |
DAEHN, WILFRIED;HAMMERL, ERWIN |
分类号 |
G01R31/28;G11C29/10;G11C29/12;G11C29/36;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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