发明名称 Anordnung zur Messung der Traegerlebensdauer in Halbleiterkoerpern
摘要
申请公布号 DE1123770(B) 申请公布日期 1962.02.15
申请号 DE1961S071917 申请日期 1961.01.03
申请人 SIEMENS-SCHUCKERTWERKE AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 STUT HANS
分类号 G01R31/265 主分类号 G01R31/265
代理机构 代理人
主权项
地址