测量电压和/或电场强度的方法和传感器

摘要

本发明涉及一种测量电压和／或电场的方法，它利用晶体（１）所具有的光电效应（纵向光电效应）来实现，为此沿Ｚ方向的偏振光波（１７′）的垂直于传播方向（ｙ方向）在晶体（１）内沿ｘ轴方向上，将产生一个电场强度的梯度，根据该梯度可获得晶体（１）的折射率ｎ的相应的梯度，由此在该晶体（１）内出现该光波（１７′）的取决于场强变化的偏转，所出现的这一偏转可用来测出电压或场强。这里同样地描述了一种合适的传感器。

主权项

1.一种利用晶体中出现的电光效应测量电压和电场强度的方法，其中，晶体中的电场强度及在沿晶体的y轴的光路上的折射率可以通过在与所述光路垂直的z轴方向施加电压而改变，包括步骤：沿所述光路在晶体上设置一对或多对电极，所述每对电极中的两个电极分别位于晶体的在z轴方向上分离开的相对表面上；将要测量的电压连接在所述电极上，使得z轴方向的电场强度在沿晶体的x轴方向产生一个梯度，从而产生一个折射率梯度，结果导致晶体中的光波在沿x轴方向被偏转，偏转的量是要测量的电压的函数；沿所述光路传输一光波；测量所述光波的偏转量；和根据所测得的偏转量确定连接至所述电极的电压的大小。