| 摘要 |
Раскрыт способ для получения характеристик подповерхностных уровней Земли с более высокой степенью точности, чем это делалось до настоящего времени. Образцы сейсмических данных испытывают сейсмический снос и суммируют, например, в соответствии с известными методами и затем анализируют спектр. Спектральный анализ применяется в особенности подповерхностного, и, например, конкретный слой, ограниченный парой горизонтов, будет подвергаться спектральному анализу объемной отраженной волны. Анализ проводят с использованием ортогонального базиса с помощью определения отраженных сигналов в терминах коэффициентов для набора ортогональных полиномов. Дополнительные сейсмические характеристики или атрибуты можно непосредственно вычислить из полиномиальных коэффициентов. Эти коэффициенты представляют собой характеристики слоя с высокой степенью точности и их можно сравнить с ранее полученными спектрами (например, синтетическими спектрами или предварительно охарактеризованными спектрами) для дополнительной поддержки при анализе измеренных сейсмических данных.Международная заявка была опубликована вместе с отчетом о международном поиске. |
