| 发明名称 |
TEST SCHEME THAT RE-USES ORIGINAL STIMULUS FOR TESTING CIRCUIRTY EMBEDDED WITHIN A LARGER CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100251787(B1) |
申请公布日期 |
2000.04.15 |
| 申请号 |
KR19970044689 |
申请日期 |
1997.08.30 |
| 申请人 |
NATIONAL SEMICONDUCTOR CORPORATION |
发明人 |
QURESHI, FAZAL UR REHMAN |
| 分类号 |
G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/3185 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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