发明名称 ERROR LOG METHOD USING DEFECT LIST
摘要
申请公布号 KR100243314(B1) 申请公布日期 2000.02.01
申请号 KR19950008118 申请日期 1995.04.07
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO, LTD. 发明人 KIM, HAK-BIN
分类号 G06F12/16;G06F3/06;G06F11/07;G06F11/22;G06F11/34;G11B20/18;H02H3/05;(IPC1-7):G11B20/18 主分类号 G06F12/16
代理机构 代理人
主权项
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