发明名称 Ätzmethode für Siliciumverbindung-Schicht und Verfahren zur Herstellung eines Gegenstandes unter Verwendung dieser Methode
摘要 A method for etching a silicon compound film comprises etching the silicon compound film in a gas flow rate ratio of CHF3 to C2F6 of 1 to 6 under an etching pressure of 40 to 120 Pa. <IMAGE>
申请公布号 DE69229141(T2) 申请公布日期 2000.01.27
申请号 DE1992629141T 申请日期 1992.02.19
申请人 CANON K.K., TOKIO/TOKYO 发明人 KOYAMA, SHUJI;KASAMOTO, MASAMI;SHIBATA, MAKOTO
分类号 H01L21/302;H01L21/3065;H01L21/311;(IPC1-7):H01L21/311;B41J2/16 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人
主权项
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