发明名称 |
Method of manufacturing a metal electrode in a semiconductor device having a MOS transistor |
摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer Halbleiteranordnung mit einer strukturierten Metallschicht 9. Auf die Oberfläche der Halbleiteranordnung wird eine Schicht 7 aus einem Material mit schlechten Hafteigenschaften für das Metall aufgebracht, auf der Schicht 7 werden Strukturelemente 8 aus einem Material mit guten Hafteigenschaften für das Metall ausgebildet, die einen Abstand a voneinander haben, und die Metallschicht 9 wird derart aufgebracht, daß sie unter Berücksichtigung des Verhältnisses ihrer Dicke d zu dem Abstand a und ihrer Materialeigenschaft nur auf den Strukturelementen 8 und der Schicht 7 zwischen den Strukturelementen 8 haften bleibt. <IMAGE></p> |
申请公布号 |
EP0966045(A1) |
申请公布日期 |
1999.12.22 |
申请号 |
EP19980111318 |
申请日期 |
1998.06.19 |
申请人 |
MICRONAS GMBH |
发明人 |
IGEL, GUENTER, DIPL.-ING. |
分类号 |
G01N33/00;H01L21/3205;H01L21/768;H01L23/532;(IPC1-7):H01L29/49 |
主分类号 |
G01N33/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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