发明名称 Method of manufacturing a metal electrode in a semiconductor device having a MOS transistor
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer Halbleiteranordnung mit einer strukturierten Metallschicht 9. Auf die Oberfläche der Halbleiteranordnung wird eine Schicht 7 aus einem Material mit schlechten Hafteigenschaften für das Metall aufgebracht, auf der Schicht 7 werden Strukturelemente 8 aus einem Material mit guten Hafteigenschaften für das Metall ausgebildet, die einen Abstand a voneinander haben, und die Metallschicht 9 wird derart aufgebracht, daß sie unter Berücksichtigung des Verhältnisses ihrer Dicke d zu dem Abstand a und ihrer Materialeigenschaft nur auf den Strukturelementen 8 und der Schicht 7 zwischen den Strukturelementen 8 haften bleibt. <IMAGE></p>
申请公布号 EP0966045(A1) 申请公布日期 1999.12.22
申请号 EP19980111318 申请日期 1998.06.19
申请人 MICRONAS GMBH 发明人 IGEL, GUENTER, DIPL.-ING.
分类号 G01N33/00;H01L21/3205;H01L21/768;H01L23/532;(IPC1-7):H01L29/49 主分类号 G01N33/00
代理机构 代理人
主权项
地址