发明名称 制备高纯度矽粒之方法
摘要 本发明相关于一种用以制备氯杂质含量低于50个百万分点重量比之矽粒之方法,该方法系藉将元素矽沉积在一流体化床体反应器(该反应器包括一加热区及一反应区)内之矽粒子上,加热区之矽粒子系藉助于一不含矽之惰性载体气体加以流体化成为一流体化床体及藉助于微波能源予以加热,并于反应区使其暴露于一反应气体(其中包括一矽源气体及载体气体)内,其中反应区内反应气体(该反应气体正充满经流体化之矽粒子之间)之平均温度低于900℃,而反应区内经流体化之矽粒子(该等经流体化之矽粒子之间正充满着反应气体)之平均温度高于900℃。
申请公布号 TW372934 申请公布日期 1999.11.01
申请号 TW087113292 申请日期 1998.08.12
申请人 瓦克化学公司 发明人 金希杨;符蓝兹.席莱德尔
分类号 C01B33/021;C30B29/06 主分类号 C01B33/021
代理机构 代理人 甯育丰
主权项 1.一种用以制备氯杂质含量低于50个百万分点重量 比之矽粒之方法,该方法系藉将元素矽沉积在一流 体化床体反应器(该反应器包括一加热区及一反应 区)内之矽粒子上,加热区之矽粒子系藉助于一不 含矽之惰性载体气体加以流体化成为一流体化床 体及藉助于微波能源予以加热,并于反应区使其暴 露于一反应气体(其中包括一矽源气体及载体气体 )内,其中反应区内反应气体(该反应气体正充满经 流体化之矽粒子之间)之平均温度低于900℃。2.如 申请专利范围第1项之方法,其中反应区内流体化 之矽粒子(其中间正充满反应气体)之平均温度高 于900℃。3.如申请专利范围第1项之方法,其中矽源 气体或反应气体系经由一个或更多个管式喷嘴直 接导入该流体化床体反应器之反应区内。4.如申 请专利范围第1项之方法,其中反应气体之温度系 经由流体化床体高度加以控制。5.如申请专利范 围第1项之方法,其中反应气体之温度系经由反应 区之流体化程度(其定义为:反应区上方之平均气 体速度U及导致流体化之最低气体速率Umf之比)加 以控制。6.如申请专利范围第1或2项之方法,其中 该矽源气体最好系选自一个气体族群,该族群包括 :四氯矽烷、三氯矽烷、二氯矽烷及该等气体之混 合物。7.如申请专利范围第1.2或3项之方法,其中该 不含矽之载体气体最好系选自一个气体族群,该族 群包括:氢、氮、氩及该等气体之混合物。图式简 单说明: 第一图:适于实施本发明方法之流体化床体反应器 。
地址 德国