发明名称 SUBSTRATE INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREOF
摘要
申请公布号 JPH11297784(A) 申请公布日期 1999.10.29
申请号 JP19980101230 申请日期 1998.04.13
申请人 MATSUSHITA ELECTRON CORP 发明人 TANAKA TOMOYA
分类号 G01N27/62;G01N1/22;G01N1/28;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 G01N27/62
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利