发明名称 MULTI-VALUE TYPE SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS DEFECT REMOVAL METHOD
摘要 <p>ECC에 의하여 구제되는 데이터는 2치 회로의 출력으로서 하위 디지트 데이터 및 상위 디지트 데이터로 분류되며, 앞서 확정된 데이터 입력 순서로 ECC 회로에서 구제함으로써, 모든 데이터를 판독하기 전에 출력하는 하위 및 상위 디지트 데이터 각각의 ECC 구제가 가능하여, 그 구제 처리 시간이 단축된다.</p>
申请公布号 KR19990077597(A) 申请公布日期 1999.10.25
申请号 KR19990007134 申请日期 1999.03.04
申请人 null, null 发明人 에가와토노미
分类号 G06F11/10;G11C11/56;G11C29/42 主分类号 G06F11/10
代理机构 代理人
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