| 摘要 |
<P>L'invention concerne les dispositifs de test d'automates comportant un coupleur destiné à recevoir une carte à puce à contact.L'invention prévoit une carte (CAR) à puce (MCC) à contact (CTC), destinée à tester des automates utilisant des cartes à puce.Selon l'invention, la carte (CAR) à puce (MCC) à contact (CTC) comporte des moyens (ADC) de mesure (Msr) de paramètres électriques.</P>
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