| 主权项 |
1.一种记忆体测试资料产生电路,系用来对一记忆体模组进行测试,其包括有:一中央处理单元,系为系统的控制中心,预存有原始图像测试资料;一控制逻辑单元,与上述中央处理单元成电气连接,接受上述中央处理单元所产生之控制信号;及多数个依次串接之测试图像处理单元,分别接收上述中央处理单元递送之原始图像资料,且上述中央处理单元透过上述控制逻辑单元控制该等测试图像资料处理单元同时写入原始图像测试资料。2.如申请专利范围第1项所述之记忆体测试资料产生电路,其中该测试图像处理单元包括有:一输入缓冲器,接收来自上述中央处理单元所产生之原始图像测试资料;一图像移位暂存器,接收并暂存上述输入缓冲器输出之原始图像测试资料;一输出缓冲器,接收并暂存上述图像移位暂存器输出之原始图像测试资料;一栓锁暂存器,接收并暂存上述图像移位暂存器输出之原始图像测试资料;一输出缓冲器,接收并暂存上述输出缓冲器之原始图像测试资料,及受上述中央处理单元控制输出至上述待测记忆体模组;一输入暂存器,接收来自上述待测记忆体模组测试产生之受测结果图像资料;一比较暂存器,接收及比较上述栓锁暂存器之原始图像测试资料及上述输出暂存器之受测结果图像资料,并响应产生一比较结果资料;及一输出缓冲器,接收上述比较暂存器所输出之比较结果资料,并受上述中央处理单元控制将比较结果资料递送至上述中央处理单元。3.如申请专利范围第1项所述之记忆体测试资料产生电路,其中上述中央处理单元更将不需要比较之位元写入一遮蔽暂存器,使上述比较器在比较原始测试图像资料及受测结果图像资料时,不对于不需比较之资料进行比较动作。4.一种记忆体测试资料产生方法,系提供记忆体测试所需之测试资料,包括有下列步骤有:控制一中央处理单元,使其提供一笔原始图像测试资料;提供多数个相互串接之测试图像资料处理单元,并控制上述中央处理单元,使上述中央处理单元所产生的原始图像测试资料分别写入;及控制上述多数个相互串接之测试图像资料处理单元,使同时将原始图像测试资料同时写入记忆体中。图式简单说明:第一图系本发明较佳实施利之方块图。第二图系第一图之测试图像处理单元之电路方块图。 |
