发明名称 具有中心凸面复面介质之实心浸没透镜之光学浮动光学头
摘要 一种用于一光碟机的空气轴承总成 (10) 系用以承载一实心浸没透镜 (SIL) (16) , 该实心浸没透镜(16) 系具有一底面系面对该记录介质,该记录介质系被成形,以致于该光程离开该底面之一中心区域 (16c) 系最接近于该记录介质,而不论该空气轴承的倾斜度的扰动,并且该等位于该用以包围该中心区域 (16c) 的表面 (16b) 之上的相邻点系能够缩回以提供间隙,但是将能够至少部份地作用成为一空气轴承。在一实施例之中,该实心浸没透镜 (16) 的底面 (16c) 系具有一大约为10公尺的半径。
申请公布号 TW362212 申请公布日期 1999.06.21
申请号 TW086112923 申请日期 1997.09.06
申请人 数位派比拉斯科技公司 发明人 约翰S.伯格;纳维尔K.S.李
分类号 G11B7/08 主分类号 G11B7/08
代理机构 代理人 林镒珠 台北巿长安东路二段一一二号九楼
主权项 制构件;控制构件接到信号通道;产生构件和信号通道是单一装置的一部分。2.如申请专利范围第1项的装置,其中产生构件和至少部分的信号通道是同一积体电路的一部分。3.如申请专利范围第2项的装置,其中信号通道是积体电路磁碟机读取通道。4.如申请专利范围第3项的装置,其中控制构件控制杂讯信号振幅。5.如申请专利范围第4项的装置,其中控制构件包括:预放大器、乘法器、微分电流数位对类比转换器、滤波器;预放大器接到产生构件;乘法器接到预放大器;微分电流数位对类比转换器接到乘法器;滤波器接到乘法器。6.如申请专利范围第5项的装置,其中控制构件另包括:闸极;闸极接到乘法器和信号通道,因而当闸极关闭时,杂讯信号与信号通道隔开,当闸极开启时,杂讯信号可通过信号通道。7.如申请专利范围第6项的装置,其中产生构件包括至少一电阻器,杂讯信号主要是热杂讯。8.一种在积体电路上产生杂讯以使信号通道最佳化的方法,包括下列步骤:使用杂讯产生器,产生杂讯信号以使信号通道最佳化,其中杂讯信号产生在包含具有信号通道之积体电路的装置;使用控制构件控制杂讯信号;结合杂讯信号与测试信号;将杂讯信号和测试信号传到信号通道;评估测试信号以使信号通道最佳化。9.如申请专利范围第8项的方法,其中产生杂讯信号以使信号通道最佳化的步骤包括:产生杂讯信号并将杂讯信号传到信号通道,其中杂讯信号产生在具有信号通道的积体电路上。10.如申请专利范围第9项的方法,其中产生杂讯信号以使信号通道最佳化的步骤包括:产生杂讯信号,使积体电路磁碟机读取通道最佳化。11.如申请专利范围第10项的方法,其中控制杂讯信号的步骤控制杂讯信号振幅。12.如申请专利范围第11项的方法,其中控制杂讯信号振幅的步骤包括:预放大杂讯信号;倍增杂讯信号;使用微分电流数位对类比转换器,控制倍增杂讯信号的步骤;将杂讯信号滤波。13.如申请专利范围第12项的方法,其中控制杂讯信号振幅的步骤另包括:以闸极控制杂讯信号,使得当闸极关闭时,杂讯信号与信号通道隔开,当闸极开启时,杂讯信号可通过信号通道。14.如申请专利范围第13项的方法,其中产生杂讯信号的步骤包括使用主要产生热杂讯的电阻器。15.一种使积体电路磁碟机读取通道最佳化的装置,包括:积体电路杂讯产生器、信号通道、侦测试信号的侦测构件;积体电路杂讯产生器包括:产生杂讯信号以使信号通道最佳化的产生构件和控制杂讯信号的控制构件;产生构件接到控制构件;控制构件接到信号通道;积体电路杂讯产生器和信号通道是单一装置的一部分;侦测构件接到信号通道以侦测信号通道的测试信号。16.如申请专利范围第15项的装置,其中产生构件和至少部分的信号通道是同一积体电路的一部分。17.如申请专利范围第16项的装置,其中信号通道是积体电路磁碟机读取通道。18.如申请专利范围第17项的装置,其中控制构件控制杂讯信号振幅。19.如申请专利范围第18项的装置,其中控制构件包括:预放大器、乘法器、微分电流数位对类比转换器、滤波器;预放大器接到产生构件;乘法器接到预放大器;微分电流数位对类比转换器接到乘法器;滤波器接到乘法器。20.如申请专利范围第19项的装置,其中控制构件另包括:闸极;闸极接到乘法器和信号通道,因而当闸极关闭时,杂讯信号与信号通道隔开,当闸极开启时,杂讯信号可通过信号通道。图式简单说明:第一图是接到信号通道之杂讯产生器的方块图。第二图是本发明之杂讯产生器的方块图。第三图是本发明之杂讯产生器元件较佳实施例的示意图。
地址 美国