发明名称 IC-Testgerät
摘要
申请公布号 DE19817124(A1) 申请公布日期 1999.02.11
申请号 DE19981017124 申请日期 1998.04.17
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 KIYOKAWA, TOSHIYUKI, KUKI, SAITAMA, JP
分类号 G01R31/26;G01R1/04;H01L23/32;H01R33/76;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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