发明名称 INSPECTION APPARATUS FOR DEFECT OF SUBSTRATE
摘要
申请公布号 JPH116803(A) 申请公布日期 1999.01.12
申请号 JP19970175302 申请日期 1997.06.16
申请人 NIKON CORP 发明人 OMORI TAKEO
分类号 G01B11/00;G01B11/30;G01N21/88;G01N21/956;(IPC1-7):G01N21/88 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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