| 发明名称 |
Method and apparatus for measuring the thickness of a non-ferromagnetic conductive layer on a ferromagnetic conductive substrate |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU700581(B2) |
申请公布日期 |
1999.01.07 |
| 申请号 |
AU19960063567 |
申请日期 |
1996.06.18 |
| 申请人 |
BEKAERT NAAMLOZE VENNOOTSCHAP |
发明人 |
BENOIT DE HALLEUX;BRUNO DE LIMBURG STIRUM |
| 分类号 |
G01B;G01B1/00;G01B7/02;G01B7/06;G01N27/72;(IPC1-7):G01B1/00 |
主分类号 |
G01B |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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