发明名称 Verfahren und Gerät zur Untersuchung eines leitenden Musters auf einer Leiterplatte
摘要
申请公布号 DE69032459(T2) 申请公布日期 1998.11.19
申请号 DE19906032459T 申请日期 1990.03.28
申请人 DAINIPPON SCREEN MFG. CO., LTD., KYOTO, JP 发明人 KITAKADO, RYUJI, C/O DAINIPPON SCREEN MFG. CO. LTD, HORIKAWA DORI, KAMIKYO-KU, KYOTO, JP;YANO, HIRONOBU, C/O DAINIPPON SCREEN MFG.CO. LTD., HORIKAWA DORI, KAMIKYO-KU, KYOTO, JP;KAKUMA, HIROAKI, C/O DAINIPPON SCREEN MFG. CO. LTD, HORIKAWA DORI, KAMIKYO-KU, KYOTO, JP;HOKI, TETSUO, C/O DAINIPPON SCREEN MFG. CO. LTD., HORIKAWA DORI, KAMIKYO-KU, KYOTO, JP;KANAI, TAKAO, C/O DAINIPPON SCREEN MFG. CO. LTD., HORIKAWA DORI, KAMIKYO-KU, KYOTO, JP
分类号 G06T7/00;(IPC1-7):G06T7/00 主分类号 G06T7/00
代理机构 代理人
主权项
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