发明名称 | 表面起伏式绕射光学元件及其制作方法 | ||
摘要 | 一种表面起伏式绕射光学元件及其制作方法包括下列步骤:(1)利用一种渐进式(或多层次)光折射率系数分布镀膜技术,在基板上镀上一层渐进光折射率系数分布膜,使光束经过时产生光程差,再以光阻涂布,然后以光罩制版或以激光直接干涉的方式,直接在光阻上拍摄出所需之绕射条纹;(2)经显影、定影而将所需之绕射条纹形成于光阻上;(3)利用前述光阻做为光罩,对渐进式(或多层次)光折射率系数分布膜进行蚀刻,借以在前述的分布膜上形成绕射条纹,最后去除光阻。 | ||
申请公布号 | CN1196490A | 申请公布日期 | 1998.10.21 |
申请号 | CN97103984.4 | 申请日期 | 1997.04.11 |
申请人 | 财团法人工业技术研究院 | 发明人 | 蔡忠杰 |
分类号 | G02B3/08;G02B5/18 | 主分类号 | G02B3/08 |
代理机构 | 隆天国际专利商标代理有限公司 | 代理人 | 潘培坤;左明坤 |
主权项 | 1.一种表面起伏式绕射光学元件的制作方法,包括下列步骤:(1)利用一种渐进式光折射率系数分布镀膜技术,在基板上镀上一层渐进光折射率系数分布膜,使光束经过时可产生光程差,再以光阻涂布镀有渐进式光折射率系数分布膜的基板,渐进式光折射率系数分布规格可由绕射条纹线宽及所需效率等参数,再经精确的耦合波理论计算出所须的光折射率系数分布,然后以激光直接干涉的方式,直接在光阻上拍摄出所需之绕射条纹;(2)经由显影、定影而将所需之绕射条纹形成于光阻上;(3)利用前述光阻做为光罩,并以半导体工艺中常用的蚀刻技术,对渐进式光折射率系数分布膜进行蚀刻,借以在前述渐进式光折射率系数分布膜上形成绕射条纹,最后将光阻去除。 | ||
地址 | 台湾新竹县竹东镇中兴路四段195号 |