发明名称 | 半导体器件 | ||
摘要 | 本发明的目的是在具有强电介质电容器的半导体器件中,减小强电介质电容器的特性离散,且把该强电介质电容器的特性变动,即把时间的流驶所伴生的特性退化抑制为很小。本方案是:用具有以沿第1方向D1延伸并与该第1方向垂直的第2方向D2为宽度方向的平面形状的下部电极111a,在该下部电极111a上边被配置为相向的多个上部电极112a,和配置在该两电极间的强电介质层,构成强电介质电容器110a,且把该上部电极112a的平面形状做成为上述第1方向D1上的尺寸比上述第2方向上的尺寸小的形状。 | ||
申请公布号 | CN1194723A | 申请公布日期 | 1998.09.30 |
申请号 | CN97190606.8 | 申请日期 | 1997.04.18 |
申请人 | 松下电子工业株式会社 | 发明人 | 平野博茂;竹尾昌人 |
分类号 | H01L21/822;H01L27/04;H01L27/108;H01L21/8242 | 主分类号 | H01L21/822 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王永刚 |
主权项 | 1、一种半导体器件,其特征是:具备:具有沿第1方向延伸且以与该第1方向垂直的第2方向为宽度方向的平面形状的第1电极;被配置为与该第1电极相向、且具有上述第1方向上的尺寸和上述第2方向上的尺寸相等的平面形状、或者具有上述第1方向上的尺寸比上述第2方向上的尺寸短的平面形状的第2电极;以及配置在上述第1电极与上述第2电极之间的强电介质层,用上述第1、第2电极及该两电极间的强电介质层构成强电介质电容器。 | ||
地址 | 日本大阪 |