| 摘要 |
본 고안은 반도체 칩의 패드에 관한 것으로, 종래에는 패드의 상면에 니들을 접촉시 이물질이 니들의 하단부에 부착되어 있거나, 니들이 미끄러져 패드를 벗어난 상태에서 검사를 하는 경우가 종종 발생하여 정확한 검사가 이루어지지 못하는 문제점이 있었다. 본 고안 반도체 칩의 패드는 패드몸체(11)의 상면 가장자리에 니들(14)의 미끄러짐을 차단하기 위한 미끄러짐 방지턱(12)을 형성하고, 그 미끄러짐 방지턱(12)의 내측에 니들(14)에 부착되는 이물질(15)을 제거하기 위한 이물질 제거턱(13)을 형성하여, 검사시 상기 이물질 제거턱(13)에 의해 이물질(15)이 제거되고, 미끄러짐 방지턱(12)에 의해 니들(14)이 패드몸체(11)의 상면을 벗어나지 않은 상태에서 검사가 이루어지도록 함으로서 정확한 검사가 이루어지는 효과가 있다. |
