发明名称 |
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING METHOD |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH10206501(A) |
申请公布日期 |
1998.08.07 |
申请号 |
JP19970008495 |
申请日期 |
1997.01.21 |
申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
KAWABE ATSUSHI |
分类号 |
G01R31/28;G11C29/00;G11C29/02;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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