| 发明名称 |
AUTOMATIC TEST CIRCUIT GENERATION METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH10187791(A) |
申请公布日期 |
1998.07.21 |
| 申请号 |
JP19960356626 |
申请日期 |
1996.12.27 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
KOBAYASHI MASAKI |
| 分类号 |
G01R31/28;G06F17/50;H03K19/00;(IPC1-7):G06F17/50 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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