| 发明名称 |
Scan test circuit using fast transmission gate switch |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU693474(B2) |
申请公布日期 |
1998.07.02 |
| 申请号 |
AU19940076866 |
申请日期 |
1994.09.12 |
| 申请人 |
QUALITY SEMICONDUCTOR, INC. |
发明人 |
ZWIE AMITAI;MARK MUEGGE |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G06F11/22;H01L21/822;H01L21/8234;H01L27/04;H01L27/088;(IPC1-7):G06F11/26;H01L23/532 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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