发明名称 PATTERN AND METHOD FOR MEASURING EXPOSURE ACCURACY
摘要
申请公布号 JPH10177946(A) 申请公布日期 1998.06.30
申请号 JP19960339198 申请日期 1996.12.19
申请人 SONY CORP 发明人 KASUGA TAKU
分类号 G01B11/00;G01B15/00;G01B21/00;G03F7/20;H01L21/027;(IPC1-7):H01L21/027 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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