| 发明名称 |
THERMAL STRAIN INSPECTING METHOD FOR GLASS BULB AND THERMAL STRAIN INSPECTING METHOD FOR ELECTRON GUN |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH10154465(A) |
申请公布日期 |
1998.06.09 |
| 申请号 |
JP19960314011 |
申请日期 |
1996.11.25 |
| 申请人 |
SONY CORP |
发明人 |
TANBA KIYOTAKA;HATANO YASUTO;SUNAYAMA MITSUAKI |
| 分类号 |
H01J9/34;H01J9/42;(IPC1-7):H01J9/42 |
主分类号 |
H01J9/34 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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