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发明名称 IC-Testgerät
摘要
申请公布号 DE19743709(A1) 申请公布日期 1998.04.16
申请号 DE19971043709 申请日期 1997.10.02
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 SHIMASAKI, NORIAKI, GYODA, SAITAMA, JP
分类号 G01R31/28;G01R31/319;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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