发明名称 DETECTING METHOD FOR DEFECTS OF SAMPLE WITH PERIODIC PATTERN
摘要
申请公布号 JPH1078307(A) 申请公布日期 1998.03.24
申请号 JP19960252187 申请日期 1996.09.04
申请人 DAINIPPON PRINTING CO LTD 发明人 SHIMIZU SATOSHI;NAKANISHI MINORU
分类号 G01B11/24;G01B11/30;G01M11/00;G01N21/88;(IPC1-7):G01B11/24 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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