| 发明名称 |
TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH1073646(A) |
申请公布日期 |
1998.03.17 |
| 申请号 |
JP19960229889 |
申请日期 |
1996.08.30 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD |
发明人 |
OZAKI KAZUNARI;SHIMABAYASHI KAZUHIKO |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G01R31/316;H03M1/10;(IPC1-7):G01R31/316 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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