发明名称 双可控硅自动调节器故障总体检测保护方法与装置
摘要 一种双可控硅自动调节器故障总体检测保护方法及其装置,取双可控硅自动调节器两套的输出电压进行比较和微分,并对比较和微分的结果进行综合逻辑判断和处理。对双可控硅自动调节器内部的任何环节的任何部位因任何原因造成的各种程度不同的超输出和欠输出故障可在0.5秒内发出故障报警信号并退出有故障调节器,可避免因双可控硅自动调节器故障而造成的电气系统事故。具有构成简单、保护选择性好、灵敏度高、保护区全面且快速等特点。
申请公布号 CN1165421A 申请公布日期 1997.11.19
申请号 CN96110806.1 申请日期 1996.08.12
申请人 张广恕 发明人 张广恕
分类号 H02H7/12 主分类号 H02H7/12
代理机构 代理人
主权项 1.一种双可控硅自动调节器(SGT<sub>1</sub>、SGT<sub>2</sub>)故障总体检测保护方法,其特征在于:分别从SGT<sub>1</sub>和SGT<sub>2</sub>中的逆止二极管(Z<sub>1</sub>、Z<sub>2</sub>)的输入端取其电压输出信号(U<sub>T1</sub>、U<sub>T2</sub>);将U<sub>T1</sub>、U<sub>T2</sub>进行比较,检出其差值ΔU<sub>T</sub>并与SGT<sub>1</sub>和SGT<sub>2</sub>保护比较元件动作整定值ΔU<sub>TB</sub>进行比较;同时对U<sub>T1</sub>和U<sub>T2</sub>进行其平均值的的微分处理;对ΔU<sub>T</sub>与ΔU<sub>TB</sub>的比较结果和U<sub>T1</sub>、U<sub>T2</sub>的微分结果进行综合逻辑判断和处理:当|ΔU<sub>T</sub>|>ΔU<sub>TB</sub>时:若:<img file="A9611080600021.GIF" wi="210" he="130" />,逻辑产生SGT<sub>1</sub>欠输出故障信号,退出SGT<sub>1</sub>运行;若:<img file="A9611080600022.GIF" wi="209" he="134" />,逻辑产生SGT<sub>2</sub>超输出故障信号,自动退出SGT<sub>2</sub>运行;若:<img file="A9611080600023.GIF" wi="208" he="132" />,逻辑产生SGT<sub>1</sub>超输出故障信号,自动退出SGT<sub>1</sub>运行;若:<img file="A9611080600024.GIF" wi="208" he="134" />,逻辑产生SGT<sub>2</sub>欠输出故障信号,退出SGT<sub>2</sub>运行;若:<img file="A9611080600025.GIF" wi="213" he="130" />且<img file="A9611080600026.GIF" wi="214" he="128" />、或者<img file="A9611080600027.GIF" wi="213" he="128" />且<img file="A9611080600028.GIF" wi="213" he="125" />同时出现,逻辑不产生输出故障信号。
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