发明名称 |
ELECTRIC CHARACTERISTIC MEASURING EQUIPMENT FOR SEMICONDUCTOR WAFER |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH09120983(A) |
申请公布日期 |
1997.05.06 |
申请号 |
JP19960271365 |
申请日期 |
1996.09.20 |
申请人 |
DAINIPPON SCREEN MFG CO LTD |
发明人 |
KONO MOTOHIRO;NAKATANI IKUYOSHI;SAKAI TAKAMASA |
分类号 |
G01R31/26;G01B11/00;G01B11/14;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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