| 发明名称 |
Semiconductor memory with built-in parallel bit test mode. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0615251(A3) |
申请公布日期 |
1997.02.12 |
| 申请号 |
EP19940100019 |
申请日期 |
1994.01.03 |
| 申请人 |
KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA |
发明人 |
OHSAWA, TAKASHI;FUJII, SHUSO |
| 分类号 |
G11C11/401;G11C29/08;G11C29/24;G11C29/28;G11C29/34;G11C29/40;G11C29/44;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C11/401 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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