| 发明名称 |
HOMOGENEITY INSPECTION EQUIPMENT FOR OPTICAL MATERIAL |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0915095(A) |
申请公布日期 |
1997.01.17 |
| 申请号 |
JP19950184869 |
申请日期 |
1995.06.27 |
| 申请人 |
NIKON CORP |
发明人 |
TANIHIRA YUMIKO;SAWADA HIDEJI;KAGAYA MASANAO |
| 分类号 |
G01N21/88;G01M11/00;G01N21/958;G02B27/50;(IPC1-7):G01M11/00 |
主分类号 |
G01N21/88 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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